摘要:
为了探讨镉对鸡脑神经元线粒体损伤的机制，本试验以体外培养的鸡脑神经元为研究对象，在含终浓度为0、5、10、15μmol／LCd Cl2的DMEM培养液中培养24h后，应用MTT法测定神经元的抑制率，透射电镜观察神经元线粒体形态学变化，流式细胞仪检测神经元线粒体膜电位（△ψm）的变化，以Fura-2／AM为探针检测神经元内游离钙子浓度（[Ca^2＋]i）。结果显示：随着CdCl2浓度升高，细胞抑制率增加，细胞内[Ca^2＋]i上升，△ψm呈降低趋势，透射电镜结果显示，线粒体出现嵴模糊、断裂、消失，基质肿胀和空泡化。表明CdCl2通过升高细胞内[Ca^2＋]i，诱导通透性转变孔道开放，降低△ψm，从而造成神经元线粒体损伤。
