摘要:
目的采用Delaire头影测量法分析重庆地区青少年下颌后缩患者颅颌面硬组织特征及其补偿机制，为进一步诊断、治疗设计及预后分析提供参考。方法选取重庆地区11～14岁下颌后缩患者56例及正常[牙合]青少年40例为研究对象，拍摄头颅侧位片，采用传统头影测量法和Delaire头影测量法分析其颅颌面硬组织结构特征。结果传统头影测量法分析发现，与正常[牙合]相比，下颌后缩患者∠SNB、Co—Go、Co—Pog、U1-L1减小，∠ANB、∠SN—MP、L1-MP增大，∠SNA、Go—Pog无统计学差异。Delaire头影测量法分析发现，下颌后缩患者∠1、∠5、（Cp—Oi）／C2减小，∠2、（M—Cp）／C2、∠3、∠4增大，C3／C2、NP—F1无统计学差异；Me—F1为-8．70mm±2．48mm，Me—Met为5．74mm±2．58mm。结论Delaire头影测量法可较直观地定量评估下颌后缩患者颅颌面骨骼结构特征及其补偿机制，下颌后缩畸形主要由下颌骨相对后移及下颌骨发育不足所致。
