摘要:
为探讨电磁脉冲对下丘脑神经细胞损伤的机制,测定了电磁脉冲辐照培养下丘脑神经细胞前后细胞内LDH和培养上清中LDH、AST、CHE、K+、Na+浓度及与时间的关系.对新生的Wistar乳鼠下丘脑神经细胞在6孔板中进行原代培养,在培养14天时,用高场强EMP模拟源(场强为6×104V/m,脉冲上升时间为20 ns,脉宽为30μs,主要频率成分为0-100MHz),以脉冲重复频率为2.5次/min,辐照2 min.并于辐照后0 h(即刻)、1 h、6 h、12 h和24 h应用生化检测试剂盒测定细胞内和培养上清中LDH及培养上清中AST、CHE、K+、Na+浓度.结果表明,电磁脉冲辐照后即刻就可引起培养上清LDH、AST明显升高;辐照后1 h细胞内LDH明显降低,而培养上清中LDH、AST、CHE、和K+明显升高;辐照后6 h细胞内LDH明显降低,而培养上清中LDH、AST、CHE、K+和Na+明显升高;辐照后12 h细胞内LDH明显降低,培养上清中CHE、K+和Na+明显升高;辐照后24 h上述所有指标基本恢复.由此可以认为,电磁脉冲辐照后可引起下丘脑神经元细胞膜的损伤.
