摘要:
目的：应用X线法测量足弓,并与足印比值法和三线法的方法比较,为扁平足提供新的测量方法.方法：以足印比值法选择Ⅰ～Ⅳ型分布相对均匀的48人共96支足印,通过X线片测量,再与两种足印法进行评定.结果：X线片测量显示,内、外侧纵弓角对照比值法Ⅰ～Ⅳ型和三线法正常、轻、中、重顺序依次增加,舟骨结节距离依上述顺序而递次减小 比值法、三线法测出扁平足发生率分别为42.7%、43.6%,其中轻型比例分别为43.9%、50.0%,中型比例为31.75%、42.9%,重型比例分别为24.4%、7.1%.结论：两种足印测量方法与X线片测量结果之间密切相关,但在扁平足分型比例上存在差异.
