麦秆皮层硅化物的XPS研究(Ⅰ)

《中国造纸学报》 邱玉桂[1,2];欧海龙[2];陈春霞[2];云娜[1,3];岑丹霞[4]
摘要:
进行麦秆皮层硅化物的XPS测定及分峰拟合分析。结果表明,麦秆不同部位皮层中的硅化物都是由有机硅化物和无机硅化物组成的。有机硅化物主要有线状p-MethylSil、树脂p-PhenylSil、Ph3SiOSiPh3、Ph4Si、Et3SiCl、Et2SiCl2等。无机硅化物的种类更复杂,主要有硅灰石、云母、钠长石、硅线石、高岭土、分子筛A型及X型物质以及5种结晶形式的SiO2等。不同部位硅化物的组成、含量不同,将影响其在制浆等处理过程中的稳定性。
麦秆皮层 , 硅化物 , XPS , 分峰拟合 , 有机硅化物 , 无机硅化物
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