智力低下儿童与染色体脆性部位相关性的研究

《中国妇幼保健》 曹岩[1];黄颖[1];林栋[2];卢晟晔[3]
摘要:
目的:探讨智力低下儿童与染色体脆性部位表达率的相关性。方法:采用低叶酸、低小牛血清、较高pH值和G显带技术寺法,对20例智力低下儿童和20例正常儿童的外周血淋巴细胞染色体畸变和脆性部位表达率进行分析。结果:智力低下儿童染色体畸变率为15.3%,对照组为3.7%;脆性部位发生率为26.95%,对照组为5.6%,两组的染色体畸变率和脆性部位表达率有明显的差异(P〈0.01)。结论:智力低下儿童与染色体畸变率和脆性部位表达率有一定的相关性。
智力低下 , 染色体畸变 , 脆性部位 , G显带
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